智能IGBT动态参数测试设备
(PIM & 单管专用)​​

产品简介

智能IGBT动态参数测试设备专为PIM模块与单管功率器件(如TO-247、TO-264等)动态特性评估而设计,集成自适应高驱动能力的门极控制电路与低电感测试夹具,能够精准执行双脉冲测试、短路耐受性(SCSOA)验证、开关行为分析等关键项目。系统采用350MHz带宽采样与1GS/s高速同步采集,配合±10kV差分输入和全通道隔离设计,确保动态波形捕捉清晰、准确。内置硬件级短路保护及过流、过压联锁机制,响应时间小于10ns,有效保障测试过程安全稳定。支持触控操作与PC联控,可编辑测试流程、导出数据并兼容多种封装夹具与扩展模块,适用于科研机构、企业实验室及中低端产线测试需求,是一款性能均衡、可靠性强、具备良好扩展性的动态测试平台。

核心参数

智能IGBT动态参数测试设备(PIM & 单管专用)
适用对象 IGBT模块(如PIM、EconoDUAL、EasyPACK)与单管器件(TO-247/TO-264)
测试功能 双脉冲测试、短路耐受测试(SCSOA)、开通/关断行为评估、栅极控制动态分析
驱动能力
栅极电压范围 -15V ~ +25V,支持正负偏置,0.1V步进可编程
输出驱动电流 ±10A 峰值(@25°C),连续输出能力3A,响应时间 <30ns
输出阻抗 典型值:2~5Ω,可外接栅极电阻调整动态性能
驱动接口 双通道隔离输出,支持同步开关/死区设置
动态采集系统
带宽 350 MHz(-3dB,50Ω输入阻抗)
采样率 1 GS/s(每通道独立时基,同步采集精度±0.1ns)
电压输入范围 ±10kV(使用高压差分探头),共模抑制 ≥ 60dB@50MHz
通道数 电压×2 + 电流×2,支持全通道同步波形记录(≥100k帧缓存)
低电感控制结构
功率环路电感 <50nH(采用六层PCB+大面积回流路径设计)
接插件结构 铜镀金弹片结构+固定压接框架,确保高速低抖动
夹具适配 模块式可更换结构,支持不同封装引脚布局
保护机制
短路保护 内置硬件电流监测器,响应时间<10ns,触发后自动关断
过压保护 高压输入钳位+程序保护,设定范围:300V~1500V
过流保护 峰值检测与积分检测双通路,防止尖峰/累积过载
逻辑联锁 驱动-采集-功率链三联锁机制,防误触与热击穿
系统配置与性能
控制软件 Windows应用程序,支持测试流程编辑、波形导出、批量测试模式
通信接口 USB 3.0、LAN(TCP/IP)、选配CAN接口
测试周期 单次测试时间:<5秒(含驱动、采样、保护响应)
操作界面 10.1英寸电容触控屏(多语言支持)
电气与环境要求
电源要求 AC 220V ±10%,频率 50/60Hz,最大功耗 <800W
工作温度 15°C ~ 35°C(建议使用空调环境)
湿度范围 20% ~ 75% RH(无凝露)